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日本のせいにすることが習慣になっている韓国

中央日報 2004.05.12 19:51

半導体装備図面を不正に持ち出した犯人らを摘発

半導体装備の設計図面を国内ベンチャー企業から不正に持ち出した一団が、警察に摘発された。 警察庁特殊捜査課は12日、国内のS社が開発した半導体性能測定器「バーン・イン・チャンバー(Burn−In−Chamber)の設計図面を持ち出した容疑(不正競争防止および営業秘密保護に関する法律違反)で、C社の副社長、姜(カン、42)容疑者を拘束。また同社社長の高(コ、44)容疑者を、S社の元生産部長李(イ、47)容疑者を非拘束立件した。

警察の調べによると、姜容疑者は今年2月、現金1500万ウォン(約140万円)と株の提供などを条件に、李容疑者からS社の測定器の設計図面をコピーしたCDを入手した疑い。 また姜容疑者は、持ち出した図面を基に、同測定器の生産を試みたが技術不足から成功せず、この図面を日本の設計専門企業のW社に送って諮問した容疑ももたれている。W社は図面だけでは測定器の核心部品は製作できないとし、設計技術部長のS氏(43)を韓国に送っている。

この測定器は、半導体の点検工程で、6〜48時間をかけて80〜120度の高温を加え、不良品を選別する器械。S社は測定器と関連し、11件の特許を保有しており、95年から、三星(サムスン)電子をはじめ、国内の半導体企業に600億ウォン分(約57億3000万円)を納品した。

一方S社はこの日、日本W社に対する民事訴訟も検討していると発表した。

李哲宰(イ・チョルジェ)記者 < seajay@joongang.co.kr >

 この場合、日本W社も被害者だろ。